Ученые физтеха СОГУ усовершенствовали растровый электронный микроскоп

Ученые физтеха СОГУ усовершенствовали растровый электронный микроскоп Уникальная разработка ученых физико-технического факультета СОГУ получила патент. Им удалось, усовершенствовать растровый электронный микроскоп, разработав для него детектор тормозного рентгеновского излучения. Он позволяет получить более подробную информацию об исследуемом объекте. Благодаря детектору можно увидеть подповерхностную структуру образца на глубину до одного микрона. Получается, что образец изнутри начинает подсвечиваться своеобразной рентгеновской лампочкой. Выходящее наружу рентгеновское излучение просвечивает образец, как флюорография - человека. Обычный растровый электронный микроскоп предназначен в основном для исследования с высоким разрешением поверхности изучаемого образца, но микроскоп “заглянуть“ не может. Разработанный детектор тормозного рентгеновского излучения позволяет это сделать, дополняя электронный микроскоп такой возможностью. Над разработкой порядка двух лет трудилась команда из ч... Source: ВЕСТИ АЛАНИЯ